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【2h】

Voltage scaling and aging effects on soft error rate in SRAM-based FPGAs

机译：电压缩放和老化对基于SRAM的FPGA中软错误率的影响

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Kastensmidt F; Tonfat J; Both T; Rech P; Wirth G; Reis R; Bruguier F; Benoit P; Torres L; Frost C;
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年度 2014
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1. Voltage scaling and aging effects on soft error rate in SRAM-based FPGAs [J] . F.L. Kastensmidt, J. Tonfat, T. Both, Microelectronics & Reliability . 2014,第9a10期

机译：电压缩放和老化对基于SRAM的FPGA中软错误率的影响
2. Monte Carlo Analysis of the Effects of Soft Errors Accumulation in SRAM-Based FPGAs [J] . Battezzati N., Sterpone L., Violante M. IEEE Transactions on Nuclear Science . 2008,第期

机译：基于SRAM的FPGA中软错误累积影响的蒙特卡洛分析
3. Experimental Validation of a Tool for Predicting the Effects of Soft Errors in SRAM-Based FPGAs [J] . Sterpone L., Violante M., Sorensen R. H., IEEE Transactions on Nuclear Science . 2007,第6期

机译：在基于SRAM的FPGA中预测软错误影响的工具的实验验证
4. Aging and voltage scaling impacts under neutron-induced soft error rate in SRAM-based FPGAs [C] . Kastensmidt Fernanda Lima, Tonfat Jorge, Both Thiago, IEEE European Test Symposium . 2014

机译：基于SRAM的FPGA中子引起的软错误率下的老化和电压缩放影响
5. Dynamic Voltage Scaling for Current and Future FPGAs [D] . Ahmed, Ibrahim . 2020

机译：用于当前和未来FPGA的动态电压缩放
6. FPGA Techniques Based New Hybrid Modulation Strategies for Voltage Source Inverters [O] . L. U. Sudha, J. Baskaran, S. A. Elankurisil 2015

机译：基于FPGA技术的电压源逆变器新型混合调制策略
7. Voltage scaling and aging effects on soft error rate in SRAM-based FPGAs [O] . Kastensmidt, Fernanda Lima, Tonfat, Jorge, Both, Thiago Hanna, 2014

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